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舞阳液位计在半导体行业晶圆清洗中的应用

发布时间:2026-06-22点击次数:

一颗先进芯片从单晶硅片到最终成品,需要经历数百甚至上千道精密制造工序。在全部工艺步骤中,晶圆清洗是半导体行业芯片制造中保障洁净度的核心环节,几乎贯穿全流程 

从单晶硅片制造开始,到光刻、刻蚀、沉积等核心工艺前后,都需要对晶圆进行反复清洗,以最大限度去除金属杂质、颗粒物、有机物等污染物,也因此,晶圆清洗成为影响半导体器件良率的最重要因素之一。

在众多晶圆清洗方案中槽式湿法清洗设备是目前应用最广泛的设备之一。它被用于批式晶圆湿法清洗、刻蚀、光刻胶去除等工艺设备通过多个槽体储存化学药液或超纯水,配合热浸、喷淋、溢流和快速冲洗等方式,可同时处理25片或50片晶圆。

在湿法清洗过程中,槽体内液位的稳定控制尤为关键。化学药液或纯水的液位控制精度,直接决定了晶圆与液体接触的一致性、反应时间的准确性以及溢流清洗的效果。可靠、高精度的液位监测设备便成为保障生产稳定运行的重要组成部分。

针对半导体行业需求,TEC自主研发生产的ESC高精度磁致伸缩液位计(以下简称ESC液位计”)可广泛应用于槽式湿法设备,实现化学药液和超纯水的连续在线液位监测。

液位计在半导体行业晶圆清洗中的应用(图1) 

图:TEC-ESC防腐型磁致伸缩位移传感器

ESC液位计采用先进的磁致伸缩原理,分辨力可达0.01mm能够准确反映液位变化,为设备自动补液、液位控制以及工艺参数管理提供可靠数据支持。

在核心材质与洁净防护层面,ESC液位计全面适配半导体恶劣工况。设备外壳采用优质PFA耐腐蚀材料,这种材料具有优异的耐高温、耐强酸强碱特性可有效抵御各类强酸碱药液的侵蚀,长期运行无材质损耗、无金属离子及有机物析出,从源头杜绝清洗溶剂污染问题,完美匹配半导体高纯工艺的洁净要求。

在环境适应能力方面,ESC液位计工作温度范围覆盖-40℃+75℃,无论是低温存储槽还是高温化学浴,ESC液位计均可无衰减运行,无需额外冷却或加热保护,简化了设备设计。

此外,ESC液位计具备极强的工况适配能力,实用性与稳定性拉满。其磁环速度可灵活调节,能够适配不同槽体设备、不同药液工艺的使用需求,适配半导体复杂湿法制程场景。

作为槽式湿法设备中的关键检测元件,液位测量虽然只是半导体制程众多工艺参数中的一项,却直接关系到药液管理精度、工艺稳定性以及产品良率

TEC ESC高精度磁致伸缩液位计凭借0.01mm级测量分辨力、PFA全耐腐蚀结构以及长期稳定可靠的运行表现,可为半导体湿法制程提供精准、连续的液位监测保障,助力化学药液与超纯水实现精确控制,为设备稳定运行和产品良率提升提供可靠支撑。

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